精密lcr測試儀?高速測量2ms?能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進(jìn)行被測物合格與否的判斷?對應測試線(xiàn),比較器功能/觸發(fā)輸出功能?3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試?3504-40記錄工具,實(shí)現高速/低成本的測試查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
LCR測試儀 ?高速測量2ms ?能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ?對應測試線(xiàn),比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ?3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ?3504-40記錄工具,實(shí)現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
LCR測試儀 ?高速測量2ms ?能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ?對應測試線(xiàn),比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ?3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ?3504-40記錄工具,實(shí)現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
阻抗分析儀 ?測量頻率:1MHz~1.3GHz ?測量時(shí)間:Z快0.5ms(模擬測量時(shí)間) ?測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時(shí)的代表值) ?基本精度:±0.65% rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小,測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時(shí)進(jìn)行測量
阻抗分析儀 ?測量頻率:1MHz~600MHz ?測量時(shí)間:Z快0.5ms(模擬測量時(shí)間) ?基本精度:±0.65% rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小,測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時(shí)進(jìn)行測量
阻抗分析儀 ?測量頻率1MHz~300MHz ?測量時(shí)間:Z快0.5ms ?基本精度±0.72%rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時(shí)進(jìn)行測量
阻抗分析儀 ?測量頻率1MHz~300MHz ?測量時(shí)間:Z快0.5ms ?基本精度±0.72%rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時(shí)進(jìn)行測量
阻抗分析儀 ?適用于離子運動(dòng)和溶液電阻測量,1mHz ~ 200kHz的寬范圍信號源 ?1臺機器即可實(shí)現LCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查 ?可測量電池的無(wú)負載狀態(tài)產(chǎn)生的內部電阻 ?Z快2ms的高速測量,實(shí)現掃描測量的高速化 ?基本精度±0.05%,零件檢查到研究開(kāi)發(fā)測量均可對應 適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學(xué)零件和材料的電阻(LCR)測量
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